FJ1200環(huán)境級X、γ輻射測量儀主要用于環(huán)境輻射本底以及低水平X、γ輻射的準(zhǔn)確快速測量,儀器采用NaI晶體作為探測器，具有靈敏度高的特性。儀器攜帶方便，易于操作。本儀表可用于環(huán)保部門檢測環(huán)境本底情況，醫(yī)院人員監(jiān)測射線醫(yī)療設(shè)備附近本底，無損檢驗(yàn)(即射線探傷)裝置是否有輻射泄漏，核電站附近居民區(qū)環(huán)境本底測量，農(nóng)業(yè)部門的輻照育種設(shè)備是否有輻射泄漏。適用人群和機(jī)構(gòu)有：環(huán)境監(jiān)測機(jī)構(gòu)，醫(yī)院輻射醫(yī)療設(shè)備操作管理人員，射線探傷裝置的操作和管理人員，經(jīng)常需要使用放射源的劑量刻度站和研究核輻射和輻射儀表的科研人員等。 

技術(shù)參數(shù) 
輻射類型：X，γ 
探測器：Φ50 × 40 mm，NaI（Tl）晶體 
測量范圍：0.01 ~ 200μSv/h 
測量精度：± 10%（100 μSv/h，¹³⁷Cs） 
能量響應(yīng)： 40 keV ~ 1.3 MeV 
響應(yīng)時間：< 3 s 
工作時間：4節(jié)AA1.5V電池 
機(jī)械尺寸：主機(jī)：寬141 mm × 高111 mm × 厚38 mm 
探頭：Φ 60 × 254 mm（不含手柄）